粒度测量方法概述
关于材料的研究和生产过程经常会涉及到颗粒状材料的物理特性，例如粒度大小，比表面积等参数。颗粒的粒度分布信息以及颗粒的形状信息对于最终产品的宏观物理性能，例如抗冲击性能、强度、流动性等有着非常重大的影响。此外，面向材料宏观物理性能发展的数学模拟和仿真也要求在数学建模之前得到关于颗粒大小和形状的实际信息，所有这些都要求对颗粒的粒度和粒形进行准确分析。
目前测量颗粒粒度的方法很多，有筛分法，沉降法，激光衍射法，电阻法以及静态图像法。关于这些方法的详细介绍可以参考有关书籍，这里就不赘述了。值得指出的是在激光衍射法中，其理论基础是Fraunhofer衍射或者Mie散射理论，这两种方法都是根据在颗粒在焦平面上形成的衍射以及散射信号的强弱来推算颗粒的大小。而传统的图像法中，是借助显微镜、摄像头或数码像机和图形采集卡利用计算机软件对采集的图像进行处理和计算，从而得到颗粒的大小以及形状参数。考虑到这种方法单次所测到的颗粒个数较少，一般采用通过更换视场的方法进行多次测量来提高测试结果的真实性。本文将针这两种方法的局限性，首先介绍使用激光通道利用激光遮挡理论直接测量粒度分布，然后进一步讨论如何使用高分辨率显微摄像头进行动态颗粒粒形和粒度测量。